近日，正泰新能ASTRO N系列組件進行加嚴UVID測試，UV60輻射等級測試下衰減率僅0.7%，優(yōu)異可靠性保障長效穩(wěn)定發(fā)電！

在美國權威檢測機構RETC最新發(fā)布的報告中，紫外線誘導衰減（Ultraviolet induced degradation，UVID）問題被標識為光伏行業(yè)面臨的主要可靠性挑戰(zhàn)之一。RETC針對UVID問題發(fā)出警告，UVID由此受到行業(yè)內廣泛關注。

UVID指光伏組件在紫外線照射下導致的性能衰減。光伏組件長久暴露在陽光之下，陽光中的紫外線影響封裝材料壽命的同時，還會影響電池表面的鈍化膜層結構，破壞電池膜層中的Si-H鍵，從而影響界面鈍化效果，導致光伏組件發(fā)電性能下降。

面對UVID，正泰新能“早有準備”。正泰新能n型電池技術設計自一開始就明確較合適的鍍膜設備，并持續(xù)優(yōu)化工藝制程參數，通過引入嚴格的質量管控體系，確保ASTRO N產品在客戶端UVID質量無憂。同時，正泰新能從電池鈍化膜層結構設計優(yōu)化入手，采用行業(yè)領先的薄膜沉積技術，有效提高膜層致密性，制備厚度更優(yōu)、精度更高的氧化鋁膜層，且基本無繞鍍產生，結合最新的LIF工藝，有效增強膜層紫外線耐受度，從根源上改善UV問題。

為驗證正泰新能組件產品的抗UVID性能，正泰新能對ASTRO N系列組件進行UVID加嚴測試，分別將組件暴露于UV60（60 kWh/㎡）、UV120（120 kWh/㎡）兩個輻射等級，相較于常規(guī)UV15認證標準，組件受到的紫外輻射強度分別加強了4倍和8倍。

結果表明，ASTRO N系列組件在UV60輻射等級測試下，衰減率僅有0.7%。在UV120的超嚴苛條件下，ASTRO N組件依舊保持超低衰減，衰減率僅1.2%。與此同時，正泰新能正在同步將組件送測至專業(yè)第三方機構，推進更高UV等級的加嚴測試，驗證組件在更嚴苛環(huán)境下的可靠性能。

與此同時，為驗證組件在更加極端環(huán)境中的極致可靠性，正泰新能ASTRO N還進行濕紫外測試，同樣取得優(yōu)異的測試結果，確保組件在東南亞、中東非等高紫外高溫高濕環(huán)境下長效穩(wěn)定發(fā)電。

不僅如此， 正泰新能通過不斷的技術探索與創(chuàng)新，摸索出一套電池UV監(jiān)控系統(tǒng)，可快速識別新電池、新工藝對UVID性能的影響，從而為產品質量提供更有效的監(jiān)控手段，持續(xù)保障產品的高可靠性。

正泰新能通過技術創(chuàng)新和優(yōu)化設計，顯著提升其產品的抗UVID性能，確保電池組件在極端紫外線環(huán)境下的穩(wěn)定運行。作為第一梯隊光伏組件供應商，正泰新能致力于產品研發(fā)與技術創(chuàng)新，持續(xù)加強產品可靠性與性能，為長期價值保駕護航。